Based on the research of black box testing of the embedded software, a new test case generation algorithm is proposed.
在对嵌入式软件进行黑盒测试研究的基础上，提出了一种基于成对测试设计思想的测试用例生成算法。
Based on the research of black box testing of the embedded software, a new test case generation algorithm is proposed.
在对嵌入式软件进行黑盒测试研究的基础上，提出了一种基于成对测试设计思想的测试用例生成算法。
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