...制 芯片输入输出管脚上的边界扫描（移位）寄存器单元可以相互连接起来， 在芯片的周围形成一个边界扫描链（Boundary-Scan Chain） DR：数据寄存器 IR：指令寄存器 TAP ：控制边界扫描链 Test Clock Input (TCK)：时钟 Test Mode Selection Input (TMS) ：TMS信...
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另外，芯片管脚上的边界扫描（移位）寄存器单元可以相互连接起来，使芯片的周围形成一个边界扫描链（Boundary-Scan Chain），边界扫描链可以串行地输入和输出，通过相应的时钟信号和控制信号，就可以方便地观察和控制处在调试状态下的芯片。 阅读全文>
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