3 DICE 技术 单粒子翻转效应( single event upset s , SEU) 是 一种在辐射环境下,因为入射粒子对半导体器件的 撞击,而使锁存器或者存储器单元的状态发生改变, ...
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单粒子翻转效应(SEU,Single Event Upset)是造成各种航天器件失效的主要原 因。
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尤其是单粒子翻转效应 SEU ; single-event upset
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