原子力显微镜（AFM),是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。首台原子力显微镜在1985年研发成功，其模式可分为接触模式和轻敲模式等多种模式。AFM探针由于应用范围仅限于原子力显微镜，属于高科技仪器的耗材，应用领域不广，全世界的使用量也不多。主要的生产厂家分布在德国，瑞士，保加利亚，美国等。由于的探针寿命短，分辨率不高也不稳定且一致性差，各国都在开发新型探针。
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原子力显微镜是运用一种微小的探针去“感受”样本表面，能得到高分辨率的影像（约5纳米的分辨率）。
Atomic force microscopy generates very high-resolution images (about 5-nanometer resolution) by “feeling” the surface of a sample with a tiny probe tip.
然而，研究人员并非采用加热整个样本的方案，而是使用了原子力显微镜(afm)一个加热探针去转换出一条仅有12纳米宽的导电带。
However, instead of heating the entire sample, the researchers used a hot atomic force microscope (AFM) tip to convert very narrow ribbons, measuring just 12 nm across, into reduced graphene.
利用原子力显微镜、二次离子质谱分析仪和探针，对多晶硅薄膜的高温退火特性进行了实验研究。
An experiment was conducted to study the high-temperature annealing characteristics of polysilicon films using atomic force microscope, secondary ion mass spectroscopy and probe.
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