...facemount packaging device)的大量使用 ,PCB面积越来越小 传统测试方法难以使用 外部测试探针(external test probes) 针床测试设备(“bed-of-nails”test fixtures) 1980年,联合测试行动组(the Joint Test Action Group,JTAG )组织提出...
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外部测试探针
External test probe
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