...米粒子薄膜,采用液滴法测量其接触角,利用紫外-可见分光光度计测量其光学吸收特性,并利用原子力显微镜(atom force microscope,AFM)对两种纳米粒子薄膜及空白对比试片的表面结构进行了表征。
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并利用原子力显微镜
And using an atomic force microscope
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经过氨处理,薄膜的机械强度比未采用氨处理的薄膜大大增强,并利用红外光谱、原子力显微镜(afm)等分析手段分析了薄膜强度增强的机理。
After ammonia process treatment, the mechanical property of film was improved obviously and the mechanism was discussed by IR spectrum, AFM analysis methods.
youdao
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