弹道电子发射显微镜（BEEM）是用来研究的Au / Si的肖特基二极管的反向偏置的条件下。反向偏压引起的势垒高度，并减少在集合中的电子传输的效率的增加。
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Ballistic electron Emission Microscope
如何提高干涉条文分辨率-天涯问答 扫描热显微镜(Scanning Thermal Microscope)已经获得了血红细胞的表面结构；弹道电子发射显微镜（BEEM，Ballistic Electron Emission Miroscope）则是目前唯一能够在纳米尺度上无损检测表面和界面结构的先进分析仪器，国内也已研制成功。 2.2 纳
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