横截面透射电子显微镜(XTEM)是一个非常有用的技术,研究的界面扩散和反应,以及薄膜的晶粒生长。然而,XTEM样品制备的薄膜是乏味的,具有挑战性的。
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横截面透射电子显微镜
Cross section transmission electron microscope
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