透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm。
： 中文名称： 透射电子显微镜 英文名称： Trancmission electron microscope 仪器分类： 分析仪器 - 电子光学仪器 - 透射电镜 仪器型号： H-7500 认证情况： 否 生产厂商： 日立公司 启用日期： 所在单位：
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透射电子显微镜分析 tem study
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方法应用扫描和透射电子显微镜观察。
MethodsObserving by transmission and scanning electron microscopic method.
用透射电子显微镜（TEM）分析了所制备的样品。
The samples have been analyzed with transmission electron microscope(TEM).
透射电子显微镜的观测表明在ELO范围内位错密度很低。
EM observations indicate that the dislocation density is very low in the ELO reg ion.
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