普瑞精仪欢迎您！--精密测量系统专业制作商--产品信息 阶段就必须把测试问题考虑在内，由此，就产生了可测试化设计（Design For Test，DFT）／内建自我测试（Build in Self-test，BIST）来辅助测试作业。DFT／BIST的功能就是在IC设计端将测试问题考虑进去，才能解决IC制作完成后的测
基于4个网页-相关网页
普瑞精仪欢迎您！--精密测量系统专业制作商--产品信息 阶段就必须把测试问题考虑在内，由此，就产生了可测试化设计（Design For Test，DFT）／内建自我测试（Build in Self-test，BIST）来辅助测试作业。DFT／BIST的功能就是在IC设计端将测试问题考虑进去，才能解决IC制作完成后的测
基于2个网页-相关网页
Build in Self Test 内建自测试法 ; 自测试
Build-In Self Test 叫做内置自检
Build-In-Self-Test for Software 软件内建自测试
logic build in self test 逻辑内建自测试
Build-in self-test 内建自测试
Moreover, a scan test circuit was proposed. This circuit can implement scan test and high speed build in self test (BIST) for IP core chip tests.
另外，本文还针对IP核投片测试提出一种扫描测试电路结构，能够实现测试芯片的扫描测试和高速内建自测试(BIST)。
Based on the research of primary DFT method and the structure characteristic of designed CPU, the article combines the boundary scan and Build-In Self-Test based on BILBO to test.
本文在对目前主要的可测性设计方法进行研究的基础上，根据所设计CPU的结构特点，采用了边界扫描技术和基于BILBO的内建自测试技术结合的可测性设计方案。
As a new method of design for testability build-in self-test can prominently improve the testability of the circuits.
内建自测试作为一种新的可测性设计方法，能显著提高电路的可测性。
应用推荐