built-in self-test architecture
7.1.2 内建自我测试的结构(Built-in Self-Test Architecture) 除了在待测电路(CUT)外,基本的内建自我测试结构是由三个硬体模组组成.
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built-in self-test architecture
内置自检架构
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Aiming at the mixed-signal circuit testing, an integrated built-in self test (BIST) architecture for testing on-chip high speed ADC was presented.
针对混合信号电路的测试问题，提出了一种内建自测试(BIST)结构，分析并给出了如何利用该结构来计算片上高速模数转换器(adc)的静态参数。
youdao
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