文献摘要信息 (axial length,AL)测量及AS-OCT前房及晶状体断层扫描定量测量晶状体厚度(LT)、晶状体上升距离(crystalline lens rise,CLR)和晶状体厚度/眼轴长度系数(LT/AL ratio):1.采用单因素方差分析比较PACG眼、POAG
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crystalline lens rise
晶状体上升
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