由于直接对薄膜材料进行检测存在困难 , 故本 文采用 X 射线衍射 (XRD)、紫外-可见漫反射光谱 (DRS UV-Vis) 以及 X 射线光电子能谱 (XPS) 对 TiO2 及 FTO 粉体进行检测. 所用样品通过将相应的溶胶减压蒸除水分后真空 (100 oC) 干燥得到.
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