...31 主持人：陈文雄 交通大学电子物理系 一、中文摘要 在本计画执行期间，我们利用扫 描电场力显微术(Electric force microscopy, EFM)进行氮化镓自聚性 岛状量子结构的微观电性量测。
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原文由 ssh110 发表: 静电力显微镜 静电力显微镜(electric force microscopy, EFM)是在导电的AFM针尖上加一偏压，针尖至少在扫描的一半时间内以固定频率振动。
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...子力显微镜AR（MFP-3D-BIO） unneling Microscopy, STM) 力调制(Force Modulation) 静电力显微技术(Electric Force Microscopy, EFM) 表面电势显微术(Surface Potential Microscopy) 动态和静态力曲线测..
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...子力显微镜AR（MFP-3D-BIO） unneling Microscopy, STM) 力调制(Force Modulation) 静电力显微技术(Electric Force Microscopy, EFM) 表面电势显微术(Surface Potential Microscopy) 动态和静态力曲线测..
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dynamic electric force microscopy 动态电场力显微术
Dynamic electric force microscopy was set up on a commercial atomic force microscope (AFM) to study the polarization of single nanocrystal.
在现有的商用原子力显微镜上实现了用动态电场力显微术来研究单个纳米颗粒的极化特性。
The film morphology, electric and luminescent properties are studied in detail by atomic force microscopy and confocal fluorescent microscopy.
通过原子力显微镜和共聚焦荧光显微镜对其形貌、电学性质和荧光图像进行了表征。
In this thesis, Scanning Force Microscopy (SFM) was used to study the nanoscale electric phenomena of the surface and interface properties of ferroelectric thin films.
本论文利用扫描力显微镜研究了铁电薄膜表面与界面的电势及电畴等微区性质。
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