... (2003) 推导了测验重叠率Linden, Scrms, & Schnipke, 1999; Chang & van (test overlap rate)与项目曝光率(item exposure rate)der Linden, 2003), 所以, 在低a参数层中, 某些之间的关系： 能力水平的被试可能选不到与自己能力匹配的nkˆ2T=⋅S+ (16) r项目;...
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