存储器内建自测试(Memory Built-In Self-Test,MBIST)是较通用的一种有效的测试嵌入式存 储器的方法。
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memory built-in self-test
内存内置自检
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The principle of memory built-in self-test is analyzed in detail and a typical implementation of MBIST is given in the paper.
文中详细分析了嵌入式存储器内建自测试的实现原理,并给出了存储器内建自测试的一种典型实现。
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