...terials) 图一是一个12 mm2的密间距(fine-pitch)微控制器倒装芯片的截面扫描电子显微图(SEM, scanning electronic micrograph),该芯片是在柏林的Fraunhöfer可靠性与微集成研究所(Fraunhöfer Institute...
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应用拉伸强度测试(Tensile strength testing,TST)、扫描电镜(Scanning electronic micrograph,SEM)断口形貌分析、差示扫描量热分析(Differential scanning calorimetry,...
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