secondary ion mass spectrometry-sims
用二次离子质谱(Secondary Ion Mass Spectrometry-SIMS)、辉光放电质谱(Glow Discharge Mass Spectroscopy-GDMS)测量了晶体和原料中的杂质浓度,包括硼、铝、钒.
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secondary ion mass spectrometry-sims
次级离子质谱法
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Time-of-Flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) is a very sensitive surface analytical technique, well established for many industrial and research applications.
飞行时间二次离子质谱（TOF- SIMS）是一种非常灵敏的表面检测技术。
youdao
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