secondary ion mass spectrometry sims
SIMS Secondary Ion Mass Spectrometry 二次离子质谱测定法 secondary ion mass spectrometry SIMS 二次离子质谱法 Dynamic secondary ion mass spectrometry 动态二次离子质谱 ..
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次级离子质谱法SIMS
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Time-of-Flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) is a very sensitive surface analytical technique, well established for many industrial and research applications.
飞行时间二次离子质谱（TOF- SIMS）是一种非常灵敏的表面检测技术。
youdao
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