为了使影像充分反映表面光学性质，利用采剪力式(shear force mode)的做法来除掉 当光纤探针在扫描样品表面时所带来的影响。当光纤和表面很接近时，因与样品交互作 用导致振幅或相位改变。
基于16个网页-相关网页
·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
The frequency responses of the system combing probe tip and piezo chip were detected, the difference between the shear force detection and the tapping mode detection was discussed.
文中给出了探针-压电片检测系统的的频率特性，并比较了剪切力探测和轻敲模式探测特性的区别。
youdao
应用推荐
模块上移
模块下移
不移动