中国计算机自动测量与控制技术协会——《计算机测量与控制》杂志社 关键词：边界扫描测试；MTM总线；TAP口；测试向量生成； [gap=883]Key words: boundary scan test; MTM-Bus; TAP port ; test vector generation
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A new BIST structure with the method of test vector generation based on a controlled LFSR is proposed.
本文提出了一种基于受控线性反馈移位寄存器（LFSR）进行内建自测试的结构及其测试矢量生成方法。
A new test vector generation method for Multi-capture structure is presented to generate more efficient vectors.
本文还提出了一种面向最小相关度多捕获结构的测试向量生成算法。
This paper studies a test vector generation algorithm for digital circuits which can locate the component faults.
结合一个实际电路，研究了一种可把数字电路故障定位到器件级的测试向量生成算法。
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