... testing digital logic circuit 数字逻辑测试电路 tetrapolar 四端（网络）的 tetrode field-effect transistor 四极场效应晶体管 ...
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The digital logic chip of the invention and the method of design for testing can realize the observation of circuit scanning test by adopting few pins.
本发明的数字逻辑芯片及其可测试设计的方法，能够通过少量管脚实现电路在扫描测试时的可观测。
youdao
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