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time-of-flight secondary ion mass spectrometry

飞行时间二次离子质谱

网络释义

飞行时间二次离子质谱

...子能谱（X-ray photoelectron spectroscopy，XPS），和飞行时间二次离子质谱（Time-of-flight secondary ion mass spectrometry,ToF-SIMS）系统、深入地研究了Sn负极，Sn-Co合金负极（原子比约为2：1），石墨负极，Cr2O3负极，Cr2..

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时间二次离子质谱

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二次离子质谱

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双语例句

Time-of-Flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) is a very sensitive surface analytical technique, well established for many industrial and research applications.

飞行时间二次离子质谱（TOF- SIMS）是一种非常灵敏的表面检测技术。

youdao

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