...薄膜,运用X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、霍尔效应仪(Hall-effect device)、紫外-可见分光光度计(UV-vis spectrometer)等测试手段对IGZO薄膜的性能进行了表征,研究了工艺参数对薄膜结构、形貌及光电性能的影响,并得到出了一些指导性结果。
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...玻璃基板上制备得到了CdS及其掺杂薄膜,并利用X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、紫外—可见光光谱仪(UV-Vis Spectrometer)等测试手段,对薄膜的结构和性能进行表征。
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uv-vis spectrometer respectively 紫外
UV-VIS-NIR spectrometer 实测值 ; 近红外光分光光谱仪
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