...投到了晶圆级上 为了缩短技术研发 工艺改善 更好监控以及产品认证的 周期 必须用快速的晶圆级可靠性（Wafer Level Reliability， WLR）测试来提升传统 的封装级可靠性测试效率 晶圆级可靠性测试能应用在工艺的前期阶段中 在封装之 前及早发...
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... Characterization Suite，ACS)4.0版软体，纳入了针对半导体可靠性与寿命预测测试应用的晶片级可靠性(Wafer Level Reliability，WLR)备选测试工具。
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...ation Suite，自动特征分析套件)软件，纳入了面向半导体可靠性与寿命预测测试应用的WLR(wafer level reliability，圆片级可靠性)备选测试工具。4.0版以ACS软件已有的单点和多点并行测试功能为基础.
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