ultra deep-submicron 超深亚微米
ultra deep submicron 超深亚微米
ultra deep submicron device 超深亚微米器件
ultra deep submicron technology 超深亚微米技术
ultra-deep submicron technologies 超深亚微米工艺
ultra deep submicron PMOSFET s 超深亚微米PMOS器件
Electromigration effect is still a dominating failure mechanism of interconnect for deep submicron and ultra-deep submicron scale.
在深亚微米和超深亚微米条件下,互连线失效仍然是电路失效的主要因素之一。
参考来源 - 集成电路软故障与成品率相关技术研究·2,447,543篇论文数据,部分数据来源于NoteExpress
应用推荐