...械研磨材料与制程的研究与开发 奈米结构的表面键结型态及化学成分分析 X射线光电子能谱仪(X-ray Photoelectron Spectrometer, XPS) 是藉著量测X射线光电子能谱来分析材料表面成分及表面各种元素 的化学状态，因其化学分析的功能，也称为...
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...大学》2008年硕士论文 r Transform Infrared Spectrum，FT-IR) 28 2.2.3 X 射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectrometer，XPS) 28-29 2.3 薄膜的机械性能表征 29-30 2.3.1 薄膜的纳米硬度的表征 29..
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The surface morphology and the component of the film has been analyzed by scanning electron microscopy (SEM) and X-ray photoelectron spectrometer (XPS).
并利用扫描电子显微镜(sem)和x -射线光电子谱(XPS)对薄膜的形貌和组分进行了表征。
Detective efficiency is an important instrumental parameter of X ray photoelectron spectrometer.
探测效率是X射线光电子能谱仪一个很重要的仪器参数。
The implanted samples were analyzed using X ray diffractometer (XRD) and X ray photoelectron spectrometer (XPS).
注入后的样品用X射线衍射方法(XRD)以及光电子能谱方法(XPS)进行分析。
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