内建自测试

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Built-In Self Test
改进的大规模集成电路测试方法 -文本浏览模式- 文档 - 枢研网关键词：可测性设计；内建自测试；每时钟测试；测试向量压缩 [gap=770]Key words：DFT；Built-in Self Test；test-per-clock；test pattern compression
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bu ilt-in se lf-test
内建自测试
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Buit-In-Self-Test
内建自测试(Buit-In-Self-Test，BIST)技术被认为是解决由于电路集成度越来越大所造成的测试费用巨大和测试访问困难等问题的最有希望的技术。

短语

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内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大地降低测试开销。
Built-in self-test (BIST) is used as an effective test technique and it can greatly reduce test overheads.
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本文提出了一种基于算术加法生成器的测试或内建自测试的低功耗测试方法。
A low power test approach for test or built-in self-test based on arithmetic additive generator is proposed in this paper.
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本文提出了采用模拟多路开关的模拟内建自测试电路abist的一种新结构。
This paper presents a new structure of analog Built - in Self - Test circuit (ABIST) consisting of analog multiplexers.

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