可测性设计

可测性设计

简明

1
dft
草图；通风（等于 draft, 多用于工程图纸）；

网络释义
专业释义

1
DFT
所以,人们把视线转向了可测性设计(DFT)问题.可测性设计的提出为解决测试问题开辟了新的有效途径,而边界扫描测试方法(BST)是其中一个重要的技术.
2
Design For Test
中国测试精选文章关键词：电路板；边界扫描；板级测试；可测性设计；JTAG [gap=974]Key words: PCB； Boundary scan； Board level test； Design for test； JTAG
3
DFT-Design for Testability
在深入研究了一般数字集成电路系统可测性设计(DFT-Design For Testability)的先进的理论的基础上,根据MCU的自身特点,提出了一种基于功能测试的可测性设计方法;并且完成了MCU芯片的可测性电路设计及仿真验证...

短语

1
可测性设计技术
De-sign For Testability ; DFT
2
可测性设计工程师
Design for Test Engineer
3
用可测性设计技术
Design for Testability ; DFT

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双语例句

1
通过可测性设计，使该电路的测试难度及测试时间减少了将近一半。
By design for testability, both the degree of difficulty in testing and test time are reduced nearly one half.
2
实现了支持积分同时读出(IWR)的相关双采样(CDS)及其可测性设计。
The ROIC can support CDS with IWR (Integration while read) and give the testable design.
3
系统级可测性设计主要是将存储器BIST与ARM核的边界扫描测试相结合。
SRAM BIST is also combined with ARM core's boundary scan testing during system level DFT.

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