可测试性设计

可测试性设计

简明

1
Design for testing
可测试性设计（可测试性设计是集成电路设计技术，植入特殊结构以便测试）；

网络释义
专业释义

1
Design for Testing
... Delays 延时 Design for Testing 可测试性设计 Designator 标识 ...
2
DFT
你所说的DFT(可测试性设计)是测试的主要方法，而不是功能验证。
3
design for test
...利诺伊大学电子与计算机工程学系，毕业后一直任职于美国Mentor Graphics公司，主要从事集成电路可测试性设计（Design For Test），验证，故障诊断（Diagnosis），Silicon Debug等研究。

短语

1
关于可测试性设计
design-for-test ; DFT
2
可测试性设计及其前瞻
and Where It Goes

双语例句

1
可测试性设计(DFT)技术被提了出来。
Design For Testability (DFT) techniques have been proposed.
2
首先对测试技术和可测试性设计的一些方法做出了综述。
First of all, several methods about testing technology and design for testability and SoC test techniques are summarized.
3
本文提出了一种基于知识的可测试性设计(DFT)方法。
In this paper, a knowledge-based design for testability (DFT), is presented.

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百科

可测试性设计
可测试性设计（英语：Design for Testability, DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。

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