field effect mobility
早期非晶硅局限于逻辑开关与低分辨率面板的应用,低温多晶硅薄膜晶体管凭借着较高的载流子迁移率(Field Effect Mobility),可以适当集成驱动电路于面板中,连线信号的减少降低外贴驱动IC、电路板面积与周边零组件的使用,减小了面板整体重量与体积,而...
mobility of current carrier
公布 中文名称:载流子迁移率 英文名称:mobility of current carrier 定义:载流子在电场作用下其漂移速度与电场强度的比例系数。 应用学科: 材料科学技术(一级学科);材料科学技术基础(二级学科); 材料科学基础(二级学科)
high carrier mobility
电子迁移率(英语:electron mobility)是固体物理学中用于描述金属或半导体内部电子,在电场作用下移动快慢程度的物理量。在半导体中,另一个类似的物理量称为空穴迁移率(hole mobility)。人们常用载流子迁移率(carrier mobility)来指代半导体内部电子和空穴整体的运动快慢。