XPS
X射线光电子能谱法(X-ray Photoelectron Spec-troscopy,XPS)是近年来新出现的最有效的元素分析方法之一,目前,已在化学、物理、生物等各个领域中得到广泛应用。
X-Photoelectron spectroscopy
采用残余质量浓度法、ζ电位仪、红外光谱(IR)和X射线光电子能谱(X-Photoelectron spectroscopy,XPS)系统地研究了萘磺酸甲醛缩合物(NNO)分散剂在氟铃脲颗粒表面的吸附量、吸附状态、ζ电位、吸附作用力、...
X-Ray Photoelectron Spectra
用Axis Ultra DLD型X射线光电子能谱(X-ray photoelectron spectra,XPS)仪测量样品表面元素的电子结合能, 背景真空为5 × 10 –7 Pa,阳极靶为Mg K α ,内标C...
X-ray Photoclectron Spectroscopy
...论文 ,测定植入体涂层前后的最大回复力(Maximum Recovery Force,MRF)变化 4、X射线光电子能谱(X-ray Photoclectron Spectroscopy,XPS)测定植入体的 【关键词】: 镍钛合金 钛 钛铌合金 涂层 Ni~(2+) 析出 【学位授..
X射线光电子能谱技术(XPS)是电子材料与元器件显微分析中的一种先进分析技术,而且是和俄歇电子能谱技术(AES)常常配合使用的分析技术。由于它可以比俄歇电子能谱技术更准确地测量原子的内层电子束缚能及其化学位移,所以它不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息,还能为电子材料研究提供各种化合物的元素组成和含量、 化学状态、分子结构、化学键方面的信息。它在分析电子材料时,不但可提供总体方面的化学信息,还能给出表面、微小区域和深度分布方面的信息。另外,因为入射到样品表面的X射线束是一种光子束,所以对样品的破坏性非常小,这一点对分析有机材料和高分子材料非常有利。