在深入研究了一般数字集成电路系统可测性设计(DFT-Design For Testability)的先进的理论的基础上,根据MCU的自身特点,提出了一种基于功能测试的可测性设计方法;并且完成了MCU芯片的可测性电路设计及仿真验证...
基于8个网页-相关网页
The first step of design for testability(DFT) is to determine the testability index.
合理地提出系统测试性指标是测试性设计的首要步骤。
In this paper, a knowledge-based design for testability (DFT), is presented.
本文提出了一种基于知识的可测试性设计(DFT)方法。
Design For Testability (DFT) techniques have been proposed.
可测试性设计(DFT)技术被提了出来。
应用推荐