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ic latch-up test

网络释义

  IC锁定试验

00 中文名称 IC锁定试验 英文名称 IC latch-up test 发布日期 2000-07-01 工作组 IEC/TC 47 中国标准分类 L56 国际标准分类 31.200 中文主题词 测量用连接件;电子

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ic latch-up test

IC闭锁测试

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