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secondary ion ms

网络释义

  二次离子质谱

5.2.4 快原子轰击(fast atom bombardment, FAB)和 二次离子质谱secondary ion MS, SIMS) FAB:是一种广泛应用的软电离技术。快原子轰击利用的重 原子一般为Xe 或Ar。

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  次离子质谱

5.2.4 快原子轰击(fast atom bombardment, FAB)和 二次离子质谱secondary ion MS, SIMS) FAB:是一种广泛应用的软电离技术。快原子轰击利用的重 原子一般为Xe 或Ar。

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  二次离子质谱仪

_质谱综合讨论 MS, GD-MS) 激光微探针质谱仪(Laser Microplobe MS, LM-MS) 二次离子质谱仪Secondary Ion MS, SIMS) 感应耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)的组成及工作原理 ICP-MS是利用感应耦合等离子体作为离...

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有道翻译

secondary ion ms

二次离子ms

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