Using the dir-ected graph as the functional test model of the sequential circuit. Using the method of the graph theory generate the functional validate test vector.
采用有向图作为的时序电路功能测试模型,采用图论的方法生成时序电路的功能验证测试向量。
参考来源 - 数字电路板时序电路测试方法Base on the existing synchronous sequential circuits fault simulator-HOPE, the test vector generation method of sequential circuits based on ant algorithm is systematically researched firstly.
本文在同步时序电路故障模拟器—HOPE的基础上，率先对基于蚂蚁算法的时序电路测试矢量生成方法作了系统的开拓性研究。
参考来源 - 基于蚂蚁算法的时序电路测试生成研究For the test application time can be reduced effectively, this paper proposes an approach based on scan chain disabling technique, in view of incompatible test vector compression method.
为进一步降低测试功耗及测试应用时间，提出一种基于扫描链阻塞技术且针对非相容测试向量的压缩方法。
参考来源 - 一种基于扫描链阻塞技术的低费用测试方法·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
以上来源于: WordNet
Experimental results show that this approach is efficient and automated in test vector translation.
实验结果表明，该周期化方法是一种行之有效的测试向量转换方法。
A new test vector generation method for Multi-capture structure is presented to generate more efficient vectors.
本文还提出了一种面向最小相关度多捕获结构的测试向量生成算法。
This paper studies a test vector generation algorithm for digital circuits which can locate the component faults.
结合一个实际电路，研究了一种可把数字电路故障定位到器件级的测试向量生成算法。
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